sem和tem区别(sem和tem区别与联系)

sem和tem区别与联系

sem一般用硅片，tem一般用铜箔

SEM和TEM区别

SEM (Search Engine Marketing)和TEM (Traditional Media Advertising)是市场营销两种不同的方式。

SEM 通过互联网、搜索引擎等方式进行广告投放和推广，以增加网站流量及销售转化。

TEM 利用传统媒体例如电视、户外广告、平面媒体等方式进行广告宣传。

SEM在于利用搜索引擎精准投放，往往投放广告的对象具有明确的需求，广告效果可以更好的进行监测和调整。

而TEM则在于更好的拓展品牌及更广大的受众范围，但在精准度和效果监测上相对较弱。两者都有各自的利弊，因此根据营销策略和目标受众选择相应的策略是重要的。

tem与sem各有何特点

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy.

　　SEM：即扫描电子显微镜，是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。

　　

　　SEM的优点：

　　（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

　　（二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。

　　（三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。

　　（四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。

　　（五） 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。

　　（六） 电子束对样品的损伤与污染程度较小。

　　（七） 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

　　SEM的缺点：

　　①异常反差。 由于荷电效应，二次电子发射受到不规则影响，造成图像一部分异常亮，另一部分变暗。

　　②图像畸形。 由于静电场作用使电子束被不规则地偏转，结果造成图像畸变或出现阶段差。

　　③图像漂移。 由于静电场作用使电子束不规则偏移引起图像的漂移。 ④亮点与亮线。 带电样品常常发生不规则放电，结果图像中出现不规则的亮点和亮线。

　　TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.

　　TEM：即透射电子显微镜，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”

　　

　　TEM的优点

sem跟tem区别

SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM:材料的表面形貌,结晶性。

sem和tem的主要区别

SERS就是Surface-enhanced Raman scattering的英文缩写，中文意义为表面增强拉曼散射。

中文名称

SERS

外文名称

Surface-enhanced Raman scattering

全称

简称

定义

表面增强拉曼散射

WAXDTADF抗衡离子dpbf检测单线态氧dpbf检测单线态氧原理SEM和TEMRGOCy3淬灭剂TEOS

用途

一般情况下利用拉曼光谱技术可以非常方便的物质成分鉴定。但是，对于很多的化学物质直接通过拉曼光谱无法检测出信号，需要通过拉曼增强技术，提高拉曼信号信噪比，从而检测出待检物质的拉曼信号。

tem和sem有什么区别

xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。

AES是指能谱，主要分析浓度分布。

STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。

AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全。

sem与tem的主要区别

透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的,如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况,你就必须要用TEM来观察了,SEM通常看材料的缺口断面,当然还有许多其他应用.\x0dSEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍.

sem、tem、afm各自的特点,有何区别?

原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。

它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。