sem与tem区别(sem、tem、afm各自的特点,有何区别?)

sem、tem、afm各自的特点,有何区别?

sem是扫描电镜，主要用于微观形貌观测及微区成分分析TEM是透射电镜，主要用于微区衍射分析，进行材料的微观结构分析、晶体学参数分析，位错等研究AFM是原子力显微镜，主要用于材料表面微观形貌观测，可实现3维立体构图XRD是X射线衍射，主要用于物相分析（定性与定量），结晶度分析，织构测定，晶体学参数测定等红外光谱主要用于有机官能团的标识

sem和afm

光电研究所前景广阔。

中国科学院光电技术研究所（简称光电研究所）始建于1970年，是中国科学院在西南地区规模最大的研究所。该研究所的微细加工光学技术国家重点实验室主要研究方向包括微纳光学及亚波长光学研究、微纳加工技术及装备、微光学与微系统和高分辨成像及光谱技术。实验室拥有扫描电子显微镜（SEM）、聚焦离子束（FIB）、原子力扫描显微镜（AFM）、原子层纳米膜层生长系统（ALD）等数十台性能先进的微纳加工、检测设备和百级、千级超净间，近年来承担了02重大专项、国家财政部重大仪器装备研制项目、国家973、863、国家自然科学基金重点及面上等国家、部委重大重点项目数十项。

tem和sem的区别

TEM是透射电子显微镜的英文缩写，而SEM是扫描电子显微镜的英文缩写。它们都是分析高速电子流与样品作用之后的有关信息。由于收取的信息不同，观测的结果也就有较大差异。

TEM观察的是样品透射和衍射电子的信息，因此它主要用于研究样品的形貌、晶体缺陷及超显微结构等特征，也可以测定晶体的结构参数和进行晶体的定向。

TEM具有很高的分辨率（达0.1nm）和放大倍数（100~200万倍）。

SEM主要利用二次电子进行高分辨的表面微形貌观察。其分辨率高（可达5nm），放大倍数为10~30万倍。如果它们配上能谱仪，均能够进行定性或半定量的成分分析。

sem和tem区别

利用电沉积铁纳米晶热氧化法制备铁氧化物纳米针研究 关键词：纳米针；脉冲电镀；热氧化法；X射线衍射仪；扫描电子显微镜；透射电子显微镜 [gap=1030]Keywords：nanoneedles；pulse plating；thermal oxidation；XRD；SEM；TEM

tem和sem有什么区别

sem的量可以大一些，tem的量必须少，因为要测单个晶体